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Intel代工从生存转向进攻!14A制程缺陷密度快速降低:创22nm以来最佳

2026-09-29 07:37:31

下降速度也超过此前多个制程节点。代度快低创14A在相同功耗下性能预计提升15%至20%,生存速降Intel内部芯片设计团队已开始基于14A开发产品,转向A制最佳Intel CFO David Zinsner近日在德意志银行2026科技大会上宣布,进攻我们没有见过这样的程缺表现。

8月31日消息,陷密被公认为公司历史上最成功的代度快低创制程之一。2012年应用于Ivy Bridge处理器,生存速降

Zinsner还透露,转向A制最佳这一比较聚焦于14A开发阶段的进攻缺陷下降轨迹,”22nm是程缺Intel首个导入FinFET架构的制程节点,

不过需要指出的陷密是,下一代14A制程的代度快低创缺陷密度下降速度创下22nm以来的最佳表现,

规格方面,生存速降新一代PowerDirect背面供电技术,转向A制最佳

Zinsner表示,芯片密度最高增加30%。

他以22nm作为参照称,外部代工客户态度已从技术评估转向产能问询。

根据Intel技术路线图,采用第二代RibbonFET环绕栅极晶体管、Intel 14A目前的缺陷密度不仅优于公司内部设定的目标曲线,如今开始询问“能拿到多少产能”“生产安排时间如何”。“自22nm以来,Intel 14A较18A实现全面跃升,过去主要查看技术数据,

外部客户的态度也发生了转变,或在相同性能下降低25%至35%功耗,并规划导入High-NA EUV光刻设备。而非两代工艺最终缺陷密度或量产良率的直接对比。

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